Свяжитесь мы

Контактное лицо : Phoebe Yu

Номер телефона : 8618620854039

Ватсап : +8618620854039

92% High Quantum Spectrometer for Film Thickness Measurement

Контакт

92% высококвантовый спектрометр для измерения толщины пленки

Количество мин заказа :	1	Цена :	Подлежит обсуждению
Упаковывая детали :	Международная перевозка	Время доставки :	90-120 рабочие дни
Условия оплаты :	T/T, Western Union	Поставка способности :	100PCS/90-120 дней

Место происхождения:	Китай	Фирменное наименование:	JINSP
Сертификация:	ISO9001	Номер модели:	SR100Q
Документ:	Брошюра продукта PDF

Подробная информация
Спектральный диапазон:	200 - 1100 нм	Эффективные пиксели:	1024*122
Эффективность Qutuam:	QE92% peak@650nm, 83%@232nm	SNR:	1000:1

Характер продукции

92% высококвантовый спектрометрИзмерение толщины пленки

Технология тонкой пленки играет жизненно важную роль в таких отраслях, как полупроводники, солнечная энергия, дисплеи и оптические покрытия.Фотоэлектрические методы, с их неконтактными, неразрушительными и эффективными преимуществами, будут продолжать продвигать измерение пленки.Сочетание умных алгоритмов с оптическими устройствами позволяет точно оценивать толщину и качество, способствующие улучшению процессов и промышленным инновациям.

Параметры продукта:

DЭтектор	Тип чипа	Заднесветное теплоохлаждающее устройство Hamamatsu S7031
	Эффективные пиксели	1024*122
	Размер пикселя	24*24 мкм
	Область обнаружения	24.576*2.928 мм
Оптические Параметры	Оптический дизайн	F/4 перекрестный тип
	Численная диафрагма	0.13
	Фокальная длина	100 мм
	Ширина входной щели	10 мкм, 25 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 200 мкм (настраивается)
	Интерфейс волокна	SMA905, свободное место.
Электрические Параметры	Время интеграции	8ms-3600s
	Интерфейс вывода данных	USB3.0, RS232, RS485, 20pin соединитель
	Глубина битов ADC	16-разрядный
	Силовое питание	5В
	Рабочий ток	< 3,5 А
Физические Параметры	Операционная температура	10°C~40°C
	Температура хранения	-20°C~60°C
	Рабочая влажность	< 90% RH (без конденсации)
	Размеры	18012050 мм
	Вес	1.2 кг

Список моделей продукции:

Модель	Спектральный диапазон ((nm)	Разрешение ((nm)	Разрез ((μm)
SR100Q-G21 SR100Q-G22	200 ~ 950 350 ~ 1100	6.8	200
		2.2	50
		1.5	25
		1.0	10
SR100Q-G23 SR100Q-G24	200 ~ 775 350 ~ 925	1.6	50
		1.0	25
		0.7	10
SR100Q-G25	532 ~ 690 ((4400cm-1)	13 см-1	50
SR100Q-G26	638 ~ 800 ((3200cm-1) *	10 см-1	25
SR100Q-G27	785 ~ 1050 ((3200 см-1) *	11 см-1	50

**Примечание: * предназначены в основном для приложений Raman, с соответствующим Raman.**

Технические характеристики:

Высокая квантовая эффективность, 92% пик @ 650nm, 83% @ 232nm
Высокий SNR: сверхнизкий темный шум при длительном времени интеграции, SNR до 1000:1

Бесшумная прозрачная обработка слабого сигнала при длительном воздействии, сильная адаптация к окружающей среде
Низкий уровень шума и высокоскоростная схема: USB3.0

Метод измерения:

Свет от источника направляется через зонд оптического волокна на поверхность пленки.частичное отражение происходит на интерфейсе воздух-пленка (первый отраженный луч), в то время как передаваемый свет отражается снова на границе пленки-субстрата (второй отраженный луч). оба луча путешествуют обратно через приемное волокно до спектрометра,создавая интерференционный рисунок из-за разницы оптического путиТолщина пленки (d) определяется с помощью метода экстремума, учитывая угол попадания (θ), показатель преломления (n) и спектральные пиковые / низкие положения.в то время как более длинные длины волны производят более мелкие моделиДля точного измерения необходимо выбрать оптимальный диапазон длины волны и разрешение.

92% высококвантовый спектрометр для измерения толщины пленки 0

Типичные применения:

Определять спектр поглощения, передачи и отражения
Характеристика источника света и длины волны лазера
Модуль OEM-продуктов: спектр флуоресценции, спектр Рамана и т.д.

92% высококвантовый спектрометр для измерения толщины пленки 1

92% высококвантовый спектрометр для измерения толщины пленки 2

Введение в компанию

JINSP Company Limited, сокращенно "JINSP", является профессиональным поставщиком с более чем 17-летним опытом работы в области технологий спектрального обнаружения, включая технологии Raman, FT-IR, LIBS и т. д.После 17 лет накопления технологий, основные ключевые технологии компании достигли международного лидирующего положения на уровне, а совокупное количество заявок на патент превысило 200.

В дополнение к своей главной штаб-квартире, расположенной в оживленном городе Пекине, JINSP создала полностью принадлежащее ей дочернее производственное предприятие, расположенное в провинции Цзянсу, Китай.

Компания JINSP получила ISO9001:2015, ISO14001:2015JINSP может предоставить необходимые сертификаты, такие как сертификация Министерства общественной безопасности или Национального института метрологии,Сертификация экологического уровня, Сертификация уровня ИС, Сертификация CE, Отчет о идентификации транспорта, Сертификация ECAC ЕС, Немецкое тестирование безопасности ИКТ и т.д..

Частые вопросы

Вопрос 1: Это первый раз, когда я использую, легко ли работать?

A1: Мы отправим вам руководство и видео-указание на английском языке, это может научить вас, как управлять спектрометром.

Вопрос 2: Можете ли вы предложить оперативную подготовку?
A2: Ваши техники могут прийти на нашу фабрику для обучения.
(установка, обучение, отладка, обслуживание).

Вопрос 3: Какой у вас сайт?
A3: Вы можете посетить: www.jinsptech.com

Q4: Что насчет гарантии качества?

A4: У нас есть команда по проверке качества. Все товары пройдут проверку качества перед отправкой. Мы можем отправить вам фотографии для проверки.

тег:

Ручной спектрометр Рамана(89)

Раманный газовый анализатор(29)

Инструменты процесса анализатора Рамана(35)

компактный спектрометр CMOS(49)

Волоконно-оптический спектрометр(53)

Близкий инфракрасный спектрометр(28)

Модульный спектрометр Рамана(31)

Ручной анализатор LIBS(10)

Профилировщик луча CMOS(8)

Наносекундный импульсный лазер(5)

Лазер с кольцевым осциллятором(6)

Зонд Рамана и клетка потока(8)

Спектрометр Рамана на рабочем столе(13)

FTIR спектрометр(13)

Спектрометр ОТЗ(13)